• 参会报名
  • 会议通知
  • 会议日程
  • 会议门票

首页 > 商务会议 > 能源化工会议 > 首届国际可靠性系统工程大会&2015 故障预测与健康管理技术会议 更新时间:2015-06-17 14:54:22

首届国际可靠性系统工程大会&2015 故障预测与健康管理技术会议
收藏人
分享到

首届国际可靠性系统工程大会&2015 故障预测与健康管理技术会议 已过期

会议时间:2015-10-21 08:00至 2015-10-23 18:00结束

会议地点: 北京  唯实酒店  北京市海淀区学院路39号

会议规模:暂无

主办单位: 北京航空航天大学可靠性工程研究所 美国马里兰大学

发票类型:增值税普通发票 增值税专用发票

行业热销热门关注看了又看 换一换

        会议通知


        首届国际可靠性系统工程大会&2015故障预测与健康管理技术会议(2015 ICRSE & PHM-Beijing)将于2015年10月21日—23日在中国北京举行。

        可靠性系统工程大会&2015故障预测与健康管理技术会议(2015 ICRSE & PHM-Beijing)

        届时,相关学术专家和技术管理团体齐聚一堂,分享RSE&PHM在研究和应用领域的发展情况(包括航空航天、能源与动力系统、制造业、计算机与通讯、工业自动化等

        等)。同时,大会营造良好的专业氛围,帮助各位参会者形成和谐互助的合作关系。

        主办单位Sponsers

        北京航空航天大学可靠性工程研究所、美国马里兰大学、南京航空航天大学、国防科学技术大学、空天科学与工程学院

        IEEE可靠性协会、美国马里兰大学高级生命周期工程中心、中国航空学会、香港城市大学、欧洲安全性与可靠性协会

        中石化上海工程有限公司、ARAMIS技术咨询公司、美国罗格斯大学

        时间:2015年10月21日-23日

        地点:唯实酒店,北京,中国

        查看更多

        北京航空航天大学可靠性工程研究所 主办方:北京航空航天大学可靠性工程研究所

        介绍:1985年,我国国防科技界、教育界的著名专家,我国可靠性系统工程事业的奠基人和开拓者杨为民教授顺应国家战略重大需求,组建了北航工程系统工程系和可靠性工程研究所。历经20余年发展沉淀,学院形成了“献身国防,无私奉献的崇高境界;高屋建瓴,开拓创新的学术风范;淡泊名利,廉洁自律的高尚情怀;以人为本,集体发展的团队精神”的为民精神,秉承“开拓创新、敢为人先,需求牵引、专业推动,学科龙头、科教统筹,团队优势、集体发展”的工作理念,走过了一条“面向工程服务、开辟科研领域、创建培养体系”的特色创新之路,已成为国内可靠性工程专业技术领域的领军单位。

         美国马里兰大学 主办方: 美国马里兰大学

        介绍:马里兰大学帕克分校(University of Maryland, College Park),是位于美国马里兰州的一流高等学府,在2015-6年US NEWS世界大学排名中位列世界第41。马里兰大学始建于1856年,位于马里兰州的王子乔治郡的大学公园市(City of College Park),距离美国首都华盛顿特区13公里。马里兰大学占地1250英亩,约合7600亩。所处地域位于美国首都华盛顿特区城市圈。

        会议日程

        (最终日程以会议现场为准)


        Conferences Program


        Oct. 21, 2015 

        Registration and Tutorials


        Oct. 22, 2015 

        Keynote Speeches
            Prof. Zili Wang, School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, China

        Risk and Reliability are Part of Our Life
            Prof. Way Kuo, City University of Hong Kong, Hong Kong

        Understanding and Predicting Electronics System Reliability
            Prof. Michael Pecht, CALCE, University of Maryland, USA

        Prognostics and Health Management in the Landscape of BIG Data
            Prof. Christian Hansen, IEEE Reliability Society; School of Computing and Engineering Sciences, Eastern Washington University USA

        Program Debugging with Effective Software Fault Localization
            Prof. Eric Wong, University of Texas at Dallas, USA

        Cascading Failures in Networks of Networks
            Prof. Shlomo Havlin, Bar Ilan University, Israel

        Reliability of Next Generation Data Storage Systems 
            Dr. Jon G. Elerath, Reliability Consultant, Placerville, California, USA

        Reliability Testing: Objectives, Designs and Reliability Prediction
            Prof. Elsayed A. Elsayed, Industrial and Systems Engineering, Rutgers University, USA

        New Advancements of Data Fusion Research on Prognostics
            Prof. Jianjun (Jan) Shi, H. Milton Stewart School of Industrial and Systems Engineering, Georgia Institute of Technology, USA

        Dynamic Visual Cryptography for Fault Identification in Vibrating Micromechanical Structures 
            Prof. Minvydas Ragulskis, Research Group for Mathematical and Numerical Analysis of Dynamical Systems, Kaunas University of Technology, Lithuania

            Prof. D. N. P. Murthy, University of Queensland, Australia

        Optimum Allocation Rule for Accelerated Degradation Tests (with a Class of Exponential-Dispersion Degradation Models)
            Prof. Sheng-Tsaing Tseng, Institute of Statistics, National Tsing-Hua University, Hsinchu, Taiwan

        Safety of Systems of Systems: Challenges and Approaches
            Prof. John A McDermid, OBE, FREng, University of York UK


        Oct. 23, 2015 

        Keynote Speeches (In Sessions)
        Challenges to Reliability Practices in the Medical Device Industry 
            Dr. Bo Song, Drager, Andover, Massachusetts, USA

        Understanding the Challenges of the Exploration & Production Industry 
            Dr. Sheng Zhan, Sinopec, Houston, Texas, USA

        Redefining Electronic Product Qualification with PHM 
            Dr. Preeti S Chauhan, Intel Corporation, Chandler, AZ, USA

        Life Test Planning for Improved Reliability Prediction under Limited Time-to-Failure Data 
            Dr. Daeil Kwon, UNIST (Ulsan National Institute of Science and Technology), South Korea

        Bayesian Methodology for System Reliability Assessment 
            Dr. Yan Liu, Medtronic, Inc., Fridley, MN, USA

        Field Usage Life Prediction of Electronics 
            Dr. Fei Chai, Intel Corporation, Chandler, AZ, USA

        An Integrated Data-driven Prognostics Approach: from Critical Components Identification to Remaining Useful life Prediction
            Dr. Kamal Medjaher and Prof. Noureddine Zerhouni, FEMTO-ST Institute /National Institute in Mechanics and Microtechnologies, Besan?on, France

        ......(Pending)

        Education Forum 
        Education on RMTSSQ (Reliability, Maintainability, Testability, Supportability, Safety and Quality) 
            Chair: Prof. Shengkui Zeng, School of Reliability and Systems Engineering, Beihang University, China
        ......

        Closing Banquet

        查看更多

        会议门票


          8月31日前 9月1-30日 9月30日后
        普通票 2100 2400 2700
        学生票 1800 2100 2400

         

        查看更多

        会议场地:唯实酒店

        温馨提示
        酒店与住宿: 为防止极端情况下活动延期或取消,建议“异地客户”与活动家客服确认参会信息后,再安排出行与住宿。
        退款规则: 活动各项资源需提前采购,购票后不支持退款,可以换人参加。

        会议支持:

        • 会员折扣
          该会议支持会员折扣
          具体折扣标准请参见plus会员页面
        • 会员返积分
          每消费1元累积1个会员积分。
          仅PC站支持。
        • 会员积分抵现
          根据会员等级的不同,每抵用1元可使用的积分也不一样,具体可参见PLUS会员页面。 仅PC站支持。

        部分参会单位

        主办方没有公开参会单位

        邮件提醒通知

        分享到微信 ×

        打开微信,点击底部的“发现”,
        使用“扫一扫”即可将网页分享至朋友圈。

        录入信息

        请录入信息,方便生成邀请函